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高性能X射線熒光分析儀工作原理是X射線光管發(fā)出的初級(jí)X射線照射樣品，樣品中原子的內(nèi)層電子被激發(fā)，當(dāng)外層電子躍遷時(shí)產(chǎn)生特征X射線，通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長（或能量）和強(qiáng)度，可以獲得樣品中的元素組成與含量信息，達(dá)到定性定量...

高性能X射線熒光分析儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材...

課程KLAInstruments|Webinar課程：快速傅里葉變換：測(cè)厚膜時(shí)您的得力助手※適合新老客戶了解學(xué)習(xí)膜厚儀的使用；加深對(duì)產(chǎn)品的理解。超過8微米的厚膜會(huì)產(chǎn)生很多光干涉條紋。分析這樣復(fù)雜光譜的一個(gè)簡潔方法就是用快速傅里葉變換。FIL...

薄膜厚度測(cè)量儀作為一種測(cè)量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是薄膜厚度測(cè)量儀，因?yàn)闇y(cè)量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點(diǎn)，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對(duì)薄膜厚度測(cè)量儀做個(gè)簡單介紹。一、薄膜厚度測(cè)量儀的優(yōu)...

臺(tái)階儀屬于接觸式表面形貌測(cè)量儀器。根據(jù)使用傳感器的不同，接觸式臺(tái)階測(cè)量可以分為電感式、壓電式和光電式3種。其測(cè)量原理是:當(dāng)觸針沿被測(cè)表面輕輕滑過時(shí)，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí)，還沿峰谷作上下運(yùn)動(dòng)。觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的...

手持式合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域*的快速成份鑒定工具。手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)...