Filmetrics F20 單點光學(xué)膜厚測量儀

Filmetrics F20 白光干涉測厚儀介紹：

無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學(xué)膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計的特點，F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學(xué)膜厚測量儀適用于各種應(yīng)用。

Filmetrics F20 白光干涉測厚儀特點：

• 非接觸測量：避免損傷薄膜，適用于脆弱或敏感材料；

• 高精度與寬量程&：垂直分辨率達納米級，可測厚度范圍從1nm至3mm；

• 多場景適用性：基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。

• 測量速度快：配置完成后，數(shù)秒內(nèi)即可完成測量。

測量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

膜層范例：

• 薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等

• 薄膜種類：透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣

• 薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量

• 薄膜結(jié)構(gòu)：單層膜、多層膜；平面、曲面

常見工業(yè)應(yīng)用：

產(chǎn)品參數(shù)：

測量圖：